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產(chǎn)品知識(shí)
發(fā)布時(shí)間:2025-03-06 15:03:51 人氣:
35kV電纜半導(dǎo)體屏蔽層擊穿的根本原因在于電場(chǎng)分布異?;虿牧闲阅苁В唧w表現(xiàn)為局部場(chǎng)強(qiáng)超過材料耐受極限。以下是關(guān)鍵原因及其機(jī)理分析:
一、電纜頭制作工藝缺陷
應(yīng)力錐接觸不良
應(yīng)力管與半導(dǎo)體屏蔽層的接觸長(zhǎng)度若未達(dá)到工藝要求的20-25mm(僅10-15mm),會(huì)導(dǎo)致電場(chǎng)集中。例如,某光伏電站的8起擊穿事故中,應(yīng)力管與屏蔽層接觸不足是主因,導(dǎo)致過渡區(qū)域電荷積累并引發(fā)放電。
典型案例:某35kV電纜終端頭因應(yīng)力管覆蓋半導(dǎo)體層,銅屏蔽層與應(yīng)力錐未有效接觸,導(dǎo)致主絕緣層在運(yùn)行中逐漸碳化擊穿。
屏蔽層斷口處理不當(dāng)
半導(dǎo)體層切斷時(shí)若未形成平滑過渡(如存在臺(tái)階或毛刺),電場(chǎng)畸變可達(dá)正常值的2-3倍。資料顯示,未倒角的絕緣層末端易形成“尖端放電”,加速絕緣劣化。
二、材料性能缺陷
導(dǎo)電炭黑雜質(zhì)問題
國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)電屏蔽料的炭黑含硫、硅等雜質(zhì)(雜質(zhì)含量高于進(jìn)口材料30%以上),導(dǎo)致體積電阻率波動(dòng)(進(jìn)口料為10^0-10^2Ω·cm,國(guó)產(chǎn)料可達(dá)10^3Ω·cm),易在高壓下產(chǎn)生局部過熱。
熱縮材料密封性差
熱縮套管與電纜本體因熱膨脹系數(shù)差異,在溫差變化下易脫層形成氣隙。例如,某電站電纜頭因熱縮管縮進(jìn)1cm,水分侵入后絕緣電阻下降50%,最終擊穿。
三、機(jī)械損傷與外部環(huán)境
護(hù)套破損導(dǎo)致侵蝕
外護(hù)套損傷后,水分和化學(xué)物質(zhì)滲入半導(dǎo)體層,長(zhǎng)期腐蝕使體積電阻率升高。例如,某鉛護(hù)套電纜因護(hù)層接地故障,鋁護(hù)套與鉛包放電蝕穿,最終引發(fā)主絕緣擊穿。
熱應(yīng)力與老化
電纜運(yùn)行溫度波動(dòng)(如光伏電站晝夜溫差達(dá)40℃)導(dǎo)致材料疲勞。熱縮附件因失去彈性無法“隨纜呼吸”,界面壓力下降60%以上,加速局部放電。
四、系統(tǒng)過電壓
諧振過電壓可使局部場(chǎng)強(qiáng)瞬時(shí)提升至額定值的3-5倍。某基頻諧振案例中,35kV電纜在過電壓下發(fā)生三相屏蔽層同時(shí)擊穿。
關(guān)鍵數(shù)據(jù)對(duì)比
原因類型 | 典型電場(chǎng)畸變倍數(shù) | 材料電阻率變化范圍 | 案例占比(%) |
應(yīng)力錐接觸不良 | 2-3倍 | 無顯著變化 | 45% |
半導(dǎo)體層雜質(zhì) | 1.5-2倍 | 10^2-10^3Ω·cm | 30% |
護(hù)套破損/腐蝕 | 1.2-1.8倍 | 增加50%-200% | 15% |
過電壓 | 3-5倍 | 無顯著變化 | 10% |
總結(jié)
半導(dǎo)體屏蔽層擊穿是工藝缺陷、材料性能、機(jī)械損傷及系統(tǒng)因素共同作用的結(jié)果。其中,應(yīng)力錐安裝不當(dāng)和屏蔽料雜質(zhì)問題是兩大主因,合計(jì)占比達(dá)75%。實(shí)際運(yùn)維中需嚴(yán)格把控終端頭制作工藝(如應(yīng)力管接觸長(zhǎng)度≥20mm、半導(dǎo)體層倒角45°),并優(yōu)先選用冷縮式附件以改善熱穩(wěn)定性。
技術(shù)文獻(xiàn)
產(chǎn)品知識(shí)